無(wú)線(xiàn)充電器老化柜是針對(duì)無(wú)線(xiàn)充電設(shè)備設(shè)計(jì)的專(zhuān)用測(cè)試設(shè)備，主要用于模擬長(zhǎng)期使用場(chǎng)景下的性能衰減，驗(yàn)證產(chǎn)品的可靠性、穩(wěn)定性和壽命。

一、核心功能

多協(xié)議兼容性

支持主流無(wú)線(xiàn)充電標(biāo)準(zhǔn)（如Qi、PMA、A4WP）及快充協(xié)議（如QC、PD），可模擬不同品牌設(shè)備（如手機(jī)、耳機(jī)、可穿戴設(shè)備）的充電需求，確保測(cè)試覆蓋全場(chǎng)景。

環(huán)境模擬能力

通過(guò)溫濕度控制模塊（如-20℃~80℃溫度范圍、20%~98%RH濕度）模擬惡劣環(huán)境，結(jié)合振動(dòng)、電磁干擾等附加測(cè)試，評(píng)估無(wú)線(xiàn)充電器在復(fù)雜條件下的性能衰減。

數(shù)據(jù)采集與分析

實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)充電效率、發(fā)熱量、傳輸距離衰減等關(guān)鍵參數(shù)，生成老化曲線(xiàn)報(bào)告，精準(zhǔn)定位設(shè)計(jì)缺陷（如線(xiàn)圈偏移導(dǎo)致的功率下降、異物檢測(cè)失效等）。

二、技術(shù)特點(diǎn)

模塊化設(shè)計(jì)

采用可擴(kuò)展的工位布局（如4/8/16工位），支持不同尺寸無(wú)線(xiàn)充電器的并行測(cè)試，提升測(cè)試效率。部分型號(hào)配備自動(dòng)換向機(jī)構(gòu)，適應(yīng)橫豎屏充電場(chǎng)景。

智能化控制

通過(guò)PLC或工業(yè)電腦實(shí)現(xiàn)測(cè)試流程自動(dòng)化，支持自定義老化周期（如7×24小時(shí)連續(xù)運(yùn)行）、循環(huán)次數(shù)及故障閾值設(shè)定，減少人工干預(yù)。

安全防護(hù)機(jī)制

集成過(guò)溫保護(hù)、過(guò)流保護(hù)、短路保護(hù)及煙霧報(bào)警功能，確保測(cè)試過(guò)程安全。例如，當(dāng)檢測(cè)到線(xiàn)圈溫度超過(guò)120℃時(shí)，自動(dòng)切斷電源并記錄異常數(shù)據(jù)。

應(yīng)用場(chǎng)景

研發(fā)驗(yàn)證

在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)階段，通過(guò)加速老化測(cè)試（如等效1年使用量的200小時(shí)測(cè)試）優(yōu)化線(xiàn)圈材料、電路設(shè)計(jì)及散熱方案，縮短研發(fā)周期。

生產(chǎn)質(zhì)檢

作為產(chǎn)線(xiàn)終檢環(huán)節(jié)，批量剔除早期失效產(chǎn)品（如線(xiàn)圈虛焊、電容耐壓不足等），保障出廠(chǎng)良率。

認(rèn)證輔助

滿(mǎn)足CE、FCC、Qi認(rèn)證等標(biāo)準(zhǔn)中的可靠性測(cè)試要求，提供可追溯的測(cè)試數(shù)據(jù)，加速產(chǎn)品上市流程。

一、無(wú)線(xiàn)充電器老化柜技術(shù)原理與核心功能

電磁感應(yīng)與熱力學(xué)耦合測(cè)試

基于電磁感應(yīng)原理，通過(guò)模擬無(wú)線(xiàn)充電器的發(fā)射端與接收端（如手機(jī)線(xiàn)圈）的交互過(guò)程，結(jié)合溫濕度控制模塊（如-20℃~80℃溫度范圍），評(píng)估線(xiàn)圈材料、電路板在長(zhǎng)期使用中的熱應(yīng)力衰減。例如，高溫環(huán)境下線(xiàn)圈阻抗變化可能導(dǎo)致充電效率下降，需通過(guò)實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集監(jiān)測(cè)此類(lèi)參數(shù)。

多協(xié)議兼容與動(dòng)態(tài)負(fù)載調(diào)節(jié)

支持Qi、PMA等主流無(wú)線(xiàn)充電協(xié)議，并可模擬不同設(shè)備的充電需求（如手機(jī)、耳機(jī)）。動(dòng)態(tài)負(fù)載調(diào)節(jié)模塊（精度±0.5%）可模擬用戶(hù)實(shí)際使用中的插拔、功率波動(dòng)等場(chǎng)景，驗(yàn)證產(chǎn)品在復(fù)雜工況下的穩(wěn)定性。

老化曲線(xiàn)生成與失效分析

通過(guò)數(shù)據(jù)采集器記錄充電效率、發(fā)熱量等參數(shù)，生成老化曲線(xiàn)。例如，某產(chǎn)品在200小時(shí)測(cè)試后，充電效率從90%降至85%，可定位為線(xiàn)圈絕緣層老化或電容耐壓不足，為設(shè)計(jì)優(yōu)化提供依據(jù)。